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            Solar Cell Scan100系統(tǒng)組成
            ■ 系統(tǒng)包括兩個(gè)150W氙燈,分別做為探測(cè)光源和偏置光源(選配件)。
            ■ 采用300mm焦距的三光柵光譜儀做為分光系統(tǒng),保證良好的波長準(zhǔn)確度和重復(fù)性,消除多級(jí)光譜的影響。
            ■ 獨(dú)特的測(cè)試光路,可同時(shí)實(shí)現(xiàn)響應(yīng)度與鏡面反射率的測(cè)試.對(duì)于漫反射樣品的反射率測(cè)試,則采用積分球方式來實(shí)現(xiàn),確保了測(cè)試的準(zhǔn)確性.探測(cè)光光斑大小從3mm至10mm可調(diào),以適合不同尺寸的樣品測(cè)試。
            ■ 樣品臺(tái)采用高精度二維平移機(jī)構(gòu),配有恒溫(或變溫)及真空吸附裝置,變溫范圍可達(dá)到5~40度。
            ■ 系統(tǒng)可工作于斬波模式與連續(xù)模式,斬波模式采用鎖相放大器來實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集,連續(xù)模式采用高精度直流放大器來實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集。
            ■ 采用二維高精度電控位移臺(tái)可對(duì)電池樣品進(jìn)行Mapping掃描,
            ■ 專業(yè)軟件,可實(shí)現(xiàn)一鍵自動(dòng)完成響應(yīng)度、反射率、QE及IPCE的測(cè)試。并可針對(duì)不同應(yīng)用,自行設(shè)計(jì)測(cè)試流程。
             
            

        
    
太陽能電池QE/IPCE(量子效率)測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào):Solar Cell Scan100
產(chǎn)品代碼:
產(chǎn)品價(jià)格:
最后更新:2012-12-14
關(guān) 注 度:8204
生產(chǎn)企業(yè):北京卓立漢光儀器有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹太陽能電池QE/IPCE(量子效率)測(cè)量系統(tǒng)

Solar Cell Scan100
        太陽能電池(光伏材料)光譜響應(yīng)測(cè)試、量子效率QE(Quantum Efficiency)測(cè)試、光電轉(zhuǎn)換效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測(cè)試等。廣義來說,就是測(cè)量光伏材料在不同波長光照條件下的光生電流、光導(dǎo)等。


    

測(cè)試原理
            
       用強(qiáng)度可調(diào)的偏置光照射太陽能電池,模擬其不同的工作狀態(tài),同時(shí)測(cè)量太陽能電池在不同波長的單色光照射下產(chǎn)生的短路電流,從而得到太陽能電池的絕對(duì)光譜響應(yīng)與量子效率。
      




    



Solar Cell Scan100特點(diǎn)
◆ 掃描光源波長輸出范圍:300-2000nm
Solar Cell Scan100不僅適合常規(guī)太陽能電池的性能研究,而且適合各類新型近紅外太陽能電池材料性能的研究,真正實(shí)現(xiàn)了全光譜太陽能電池性能一體化測(cè)試。




    
        
            ◆ 獨(dú)有的垂直光路設(shè)計(jì) 
            
   獨(dú)有的垂直光路設(shè)計(jì),被測(cè)樣品平面放置,不僅確保樣品的穩(wěn)定擺放,以保證測(cè)試的穩(wěn)定性,而且更適合染料敏化電池的測(cè)試。
            ◆ JSC模擬計(jì)算功能
            ◆ 時(shí)間穩(wěn)定度測(cè)試
            ◆ 具有真空吸附及恒溫保持功能的樣品臺(tái)(選配件)

            ◆ 測(cè)試光斑大小可調(diào),適用不同尺寸樣品的測(cè)試
                  
        
    

◆ 基于Windows的軟件:
    a) 自動(dòng)控制掃描、樣品切換、光柵切換和數(shù)據(jù)采集
    b) 測(cè)量光譜響應(yīng)度、反射率、內(nèi)量子效率、外量子效率、均勻度掃描等
    c) 數(shù)據(jù)導(dǎo)出及報(bào)表打印功能,數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式支持Office、Origin、matlab等分析軟件

    
        
            ◆ 多結(jié)以及多層膜電池的測(cè)試
                通過改變偏置光光強(qiáng),來飽和各結(jié)太陽能電池,分析待測(cè)結(jié)太陽能電池量子效率。
             
            ◆ 反射率測(cè)量
                系統(tǒng)提供鏡面反射與漫反射測(cè)試選件,提供您完整的反射率測(cè)試分析手段。
        
        
             
            
            
            偏置光平行光路
             
             
            
            
            積分球漫反射測(cè)量
        
    


    
        
            ◆ 開放式偏置光路
                偏置光路上預(yù)留光學(xué)元件的安裝位置,您可自由改變偏置光的條件,可用于對(duì)太陽能電池缺陷做先期的分析。
            ◆ 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)
               適用于樣品尺寸相對(duì)固定的太陽能電池片的量測(cè)?缮(jí)為變溫或恒溫樣品臺(tái)。
            ◆ 變溫樣品臺(tái)
            
    在不同的溫度下測(cè)量太陽能電池電流的輸出,對(duì)太陽能電池在實(shí)際工作環(huán)境下是否存在缺陷做先期的分析。
            ◆ 大面積太陽能電池片(最大156x156mm)的掃描檢測(cè),二維自動(dòng)平移系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)電池樣品的各個(gè)位置做測(cè)量分析(選配件)
            
   1.量子效率均勻性分析
                2.反射率均勻性分析
            
                
            標(biāo)準(zhǔn)與變溫樣品臺(tái)
            
                
            電控掃描樣品臺(tái)


            
        
    


    
        
            ◆ 斬波與連續(xù)兩種測(cè)試模式,可實(shí)現(xiàn)常規(guī)光電池以及慢響應(yīng)光電池的光譜響應(yīng)測(cè)試
            
    Solar Cell Scan 100 提供斬波模式QE/IPCE測(cè)量,可實(shí)現(xiàn)對(duì)多種太陽電池的測(cè)試(DSSC, Organic, Amorphous silicon,   Monocrystalline Silicon, Microcrystalline Silicon, Polycrystalline Silicon, CdTe, CIGS, GaAs),也提供連續(xù)模式配合暗室測(cè)量光電轉(zhuǎn)換較慢的太陽能電池材料QE測(cè)量,如染料敏化與光化學(xué)太陽能電池材料量子效率測(cè)量。
                 
        
    


 Solar Cell Scan100 主要技術(shù)指標(biāo)


    
        
            
            項(xiàng)   目


            
            
            指標(biāo)和說明


            
        
        
            
            150W氙燈


            
            
            光學(xué)穩(wěn)定度≦0.8%,可工作在斬波模式(適合常規(guī)單晶/多晶/非晶硅、CdTe CIGS GaAs 等太陽能電池)與連續(xù)模式(適合慢響應(yīng)染料敏化電池,有機(jī)太陽能電池)


            
        
        
            
            測(cè)試光斑尺寸


            
            
            3mm~10mm


            
        
        
            
            三光柵DSP掃描單色儀


            
        
        
            
            波長范圍


            
            
            300nm2000nm


            
        
        
            
            波長準(zhǔn)確度


            
            
            a) ±0.3nm1200g/mm,300nm  b) ±0.6nm(600g/mm,500nm) 
            c) ±0.8nm(300g/mm,1250nm)


            
        
        
            
            掃描間隔


            
            
            最小可至0.1nm


            
        
        
            
            輸出波長帶寬


            
            
            <5 nm


            
        
        
            
            多級(jí)光譜濾除裝置


            
            
            根據(jù)波長自動(dòng)切換,消除多級(jí)光譜的影響


            
        
        
            
            光調(diào)制頻率


            
            
            4 - 400 Hz 


            
        
        
            
            標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)尺寸


            
            
            164mmx164mm


            
        
        
            
            標(biāo)準(zhǔn)硅探測(cè)器


            
            
            含校正報(bào)告


            
        
        
            
            偏置光源


            
            
            光強(qiáng)可調(diào),最高可大于1個(gè)太陽常數(shù)(需選配)


            
        
        
            
            樣品最大尺寸


            
            
            156mm×156mm


            
        
        
            
            數(shù)據(jù)采集裝置靈敏度


            
            
            a) 斬波模式:2nVb) 連續(xù)模式:100nA


            
        
        
            
            測(cè)量重復(fù)精度


            
            
            對(duì)太陽光譜曲線積分重復(fù)性在±1%以內(nèi)


            
        
        
            
            測(cè)試周期


            
            
            單次掃描<1min,完整測(cè)試<5min (步長5nm)


            
        
        
            
            反射率測(cè)量


            
            
            鏡面反射 300-1100nm(需選配);漫反射 300-1600nm(需選配)


            
        
        
            
            溫度控制


            
            
            恒溫控制:25±1(需選配);變溫控制:5~40(需選配)


            
        
        
            
            3D Mapping


            
            
            156mm×156mm,100um分辨率


            
        
        
            
            儀器尺寸


            
            
            主機(jī):842mm×770mm×575mm;控制柜:800mm×600mm×1300mm


            
        
    



    
        
            
            Solar Cell Scan 100選購件列表


            
        
        
            
              號(hào)


            
            
              明


            
        
        
            
            QE-A1 偏置光源附件


            
            
            150W 高穩(wěn)定氙燈,平行光路含濾光片支架,光穩(wěn)定度0.8% 


            
        
        
            
            QE-C1 鏡面反射率測(cè)試附件


            
            
            Si探測(cè)器,波長范圍300-1100nm


            
        
        
            
            QE-C2 漫反射率測(cè)試附件


            
            
            含漫反射測(cè)量積分球,Si & InGaAs探測(cè)器,波長范圍300-1600nm


            
        
        
            
            QE-D1 二維電動(dòng)樣品臺(tái)


            
            
            XY 二維電移臺(tái)及控制驅(qū)動(dòng)


            
        
        
            
            QE-F1 真空吸附樣品臺(tái)


            
            
            156mm x156mm


            
        
        
            
            QE-F2 恒溫樣品臺(tái)


            
            
            25 ±1,156mm x156mm


            
        
        
            
            QE-F3 變溫樣品臺(tái)


            
            
            5-40 ,臺(tái)面尺寸30 mm x30mm


            
        
    


北京卓立漢光儀器有限公司
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